CX40液晶屏爆破粒子LED芯片觸點(diǎn)檢測(cè)顯微鏡

■CX40M以?xún)?yōu)異的成像性能、舒適的操作體驗(yàn)，為客戶(hù)提供高性?xún)r(jià)比的金相分析及工業(yè)檢測(cè)解決方案。
■新改良的LMPlan系列長(zhǎng)工作距金相物鏡，提升色差校正水平，同時(shí)調(diào)整膜系設(shè)計(jì)，進(jìn)一步提升圖像分辨率與色彩還原性。
■落射照明器采用LED柯拉照明系統(tǒng)，帶視場(chǎng)光闌、孔徑光闌和斜照明裝置；預(yù)設(shè)起偏鏡、檢偏鏡與濾色片插槽。
■單顆5W LED 暖白光照明（3000-3300K），與同類(lèi)LED照明相比，能大程度降低觀察者的視覺(jué)疲勞。
■視場(chǎng)光闌與孔徑光闌拉桿裝置，中心可調(diào), 能靈活調(diào)節(jié)照明范圍的大小，有效避免雜光對(duì)圖像的影響。
■起偏鏡與檢偏鏡可實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)易偏光觀察，您也可根據(jù)需求，選擇不同顏色的濾色片獲得理想的觀察效果。
■透反射機(jī)架可放置樣品高達(dá)28mm，反射機(jī)架通過(guò)旋轉(zhuǎn)右圖相同位置螺釘，可將載物臺(tái)下降50mm，從而使大樣品高度可達(dá)78mm。
■隨機(jī)限位裝置，可有效防止樣品與物鏡碰觸，避免損傷。
■采用RX50M的聚光系統(tǒng)，數(shù)值孔徑更大，亮度更高，大幅提升透射光通過(guò)率。
■CX40M可提供明場(chǎng)、透射、簡(jiǎn)易偏光等多種觀察功能，明場(chǎng)圖像高亮度、高分辨率、正色還原；斜照明能凸顯直觀立體浮雕效果。

CX40液晶屏爆破粒子LED芯片觸點(diǎn)檢測(cè)顯微鏡

軟件功能：

• 內(nèi)置全新V3.0版測(cè)量系統(tǒng)，新增:自定義界面編輯、自定義模板編輯、Dxf導(dǎo)入模板、文件管理、測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)出等功能，操作更智能、更快捷、更強(qiáng)大；

• 全新系統(tǒng)再次提高圖像清晰度；

• 采用SONY高靈敏度、低噪聲SENSOR，性能強(qiáng)大，預(yù)覽流暢；

• 采用ARM Cortex A7雙核@Max1.3GHz處理器，工作流暢穩(wěn)定;

• 內(nèi)置錄像、拍圖功能可回顯播放；

• 內(nèi)置自動(dòng)尋邊功能，提升測(cè)量效果；

       支持U盤(pán)存儲(chǔ)功能，可外接鼠標(biāo)。